Sinopsis
High-resolution electron microscopy (H.R.E.M.) has become a most powerful method for investigating the internal structure of materials on an atomic scale of around 0.1 nm. The authors clearly explain both the theory and practice of H.R.E.M. for materials science.
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Acerca del autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
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Springer Japan, 1998
ISBN 10: 4431702342
ISBN 13: 9784431702344
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High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
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Kartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. High-resolution electron microscopy (HREM) has become a most powerful method for investigating the internal structure of materials on an atomic scale of around 0.1 nm. The authors clearly explain both the theory and practice of HREM for materials science. I. Nº de ref. del artículo: 5753554
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -High-resolution electron microscopy (HREM) has become a most powerful method for investigating the internal structure of materials on an atomic scale of around 0.1 nm. The authors clearly explain both the theory and practice of HREM for materials science. In addition to a fundamental formulation of the imaging process of HREM, there is detailed explanation of image simulationindispensable for interpretation of high-resolution images. Essential information on appropriate imaging conditions for observing lattice images and structure images is presented, and methods for extracting structural information from these observations are clearly shown, including examples in advanced materials. Dislocations, interfaces, and surfaces are dealt with, and materials such as composite ceramics, high-Tc superconductors, and quasicrystals are also considered. Included are sections on the latest instruments and techniques, such as the imaging plate and quantitative HREM. 204 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9784431702344
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