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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Publicado por Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2016, 2016
ISBN 10: 3319306065 ISBN 13: 9783319306063
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,49
EUR 60,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware -This book introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced clock jitter and pulses, and single event (SE) coupling induced effects. In addition to discussing various radiation hardening techniques for combinational logic, the author also describes new mitigation strategies targeting commercial designs. Coverage includes novel soft error mitigation techniques such as the Dynamic Threshold Technique and Soft Error Filtering based on Transmission gate with varied gate and body bias. The discussion also includes modeling of SE crosstalk noise, delay and speed-up effects. Various mitigation strategies to eliminate SE coupling effects are also introduced. Coverage also includes the reliability of low power energy-efficient designs and the impact of leakage power consumption optimizations on soft error robustness. The author presents an analysis of various power optimization techniques, enabling readers to make design choices that reduce static power consumption and improve soft error reliability at the same time.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 120 pp. Englisch.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Publicado por Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319306065 ISBN 13: 9783319306063
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,49
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced clock jitter and pulses, and single event (SE) coupling induced effects. In addition to discussing various radiation hardening techniques for combinational logic, the author also describes new mitigation strategies targeting commercial designs. Coverage includes novel soft error mitigation techniques such as the Dynamic Threshold Technique and Soft Error Filtering based on Transmission gate with varied gate and body bias. The discussion also includes modeling of SE crosstalk noise, delay and speed-up effects. Various mitigation strategies to eliminate SE coupling effects are also introduced. Coverage also includes the reliability of low power energy-efficient designs and the impact of leakage power consumption optimizations on soft error robustness. The author presents an analysis of various power optimization techniques, enabling readers to make design choices that reduce static power consumption and improve soft error reliability at the same time.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Publicado por Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2018
ISBN 10: 3319808486 ISBN 13: 9783319808482
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,68
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced clock jitter and pulses, and single event (SE) coupling induced effects. In addition to discussing various radiation hardening techniques for combinational logic, the author also describes new mitigation strategies targeting commercial designs. Coverage includes novel soft error mitigation techniques such as the Dynamic Threshold Technique and Soft Error Filtering based on Transmission gate with varied gate and body bias. The discussion also includes modeling of SE crosstalk noise, delay and speed-up effects. Various mitigation strategies to eliminate SE coupling effects are also introduced. Coverage also includes the reliability of low power energy-efficient designs and the impact of leakage power consumption optimizations on soft error robustness. The author presents an analysis of various power optimization techniques, enabling readers to make design choices that reduce static power consumption and improve soft error reliability at the same time.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation | Selahattin Sayil | Taschenbuch | Previously published in hardcover | xi | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9783319808482 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 97,48
EUR 28,51 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New. New. book.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Publicado por Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319306065 ISBN 13: 9783319306063
Idioma: Inglés
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 41,68
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Publicado por Berlin Springer International Publishing Springer Jun 2018, 2018
ISBN 10: 3319808486 ISBN 13: 9783319808482
Idioma: Inglés
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,49
EUR 23,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced clock jitter and pulses, and single event (SE) coupling induced effects. In addition to discussing various radiation hardening techniques for combinational logic, the author also describes new mitigation strategies targeting commercial designs. Coverage includes novel soft error mitigation techniques such as the Dynamic Threshold Technique and Soft Error Filtering based on Transmission gate with varied gate and body bias. The discussion also includes modeling of SE crosstalk noise, delay and speed-up effects. Various mitigation strategies to eliminate SE coupling effects are also introduced. Coverage also includes the reliability of low power energy-efficient designs and the impact of leakage power consumption optimizations on soft error robustness. The author presents an analysis of various power optimization techniques, enabling readers to make design choices that reduce static power consumption and improve soft error reliability at the same time. 105 pp. Englisch.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Publicado por Springer International Publishing Mrz 2016, 2016
ISBN 10: 3319306065 ISBN 13: 9783319306063
Idioma: Inglés
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,49
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced clock jitter and pulses, and single event (SE) coupling induced effects. In addition to discussing various radiation hardening techniques for combinational logic, the author also describes new mitigation strategies targeting commercial designs. Coverage includes novel soft error mitigation techniques such as the Dynamic Threshold Technique and Soft Error Filtering based on Transmission gate with varied gate and body bias. The discussion also includes modeling of SE crosstalk noise, delay and speed-up effects. Various mitigation strategies to eliminate SE coupling effects are also introduced. Coverage also includes the reliability of low power energy-efficient designs and the impact of leakage power consumption optimizations on soft error robustness. The author presents an analysis of various power optimization techniques, enabling readers to make design choices that reduce static power consumption and improve soft error reliability at the same time. 120 pp. Englisch.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 73,35
EUR 7,41 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. XI, 105 81 illus., 35 illus. in color.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 74,87
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Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. XI, 105 81 illus., 35 illus. in color.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Publicado por Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319306065 ISBN 13: 9783319306063
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 48,37
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced jitter and race, single event coupling noise, delay and speed-up effects and then compares coupling induced noise and delay effects to single event trans.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Publicado por Springer International Publishing, 2018
ISBN 10: 3319808486 ISBN 13: 9783319808482
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 48,74
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced jitter and race, single event coupling noise, delay and speed-up effects and then compares coupling induced noise and delay effects to single event trans.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Publicado por Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319306065 ISBN 13: 9783319306063
Idioma: Inglés
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,35
EUR 70,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
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