Scan statistics methods applications (12 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de AmericaSolr Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Regular
EUR 128,63
Envío por EUR 6,90Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: acceptable. This book is in Acceptable condition. All pages are intact, but may have lots of notes, water damage or other issues and be ex library.
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 166,02
Envío por EUR 14,01Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 177,48
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 179,84
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 165,99
Envío por EUR 17,54Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 184,47
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser, 2009
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 183,40
Envío por EUR 17,54Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Birkh?user, 2009
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 206,95
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. 2009. Hardcover. . . . . .
Idioma: Inglés
Editorial: Birkh?user, 2009
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 259,02
Envío por EUR 9,08Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. 2009. Hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
Idioma: Inglés
Editorial: SPRINGER NATURE Mai 2009, 2009
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 160,49
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scan statistics is currently one of the most active and important areas of research in applied probability and statistics, having applications to a wide variety of fields: archaeology, astronomy, bioinformatics, biosurveillance, molecular…biology, genetics, computer science, electrical engineering, geography, material sciences, physics, reconnaissance, reliability and quality control, telecommunication, and epidemiology. Filling a gap in the literature, this self-contained volume brings together a collection of selected chapters illustrating the depth and diversity of theory, methods and applications in the area of scan statistics. 394 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhäuser Boston, 2009
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 137,26
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presentation is accessible to statisticians as well as to scientists from other disciplines where scan statistics are employedMany current results and new directions for future research are featuredContains…extensive references to research .
Idioma: Inglés
Editorial: Birkhauser Boston, 2009
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 168,73
Envío por EUR 64,74Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Scan statistics is currently one of the most active and important areas of research in applied probability and statistics, having applications to a wide variety of fields: archaeology, astronomy, bioinformatics, biosurveillance, molecular biolo…gy, genetics, computer science, electrical engineering, geography, material sciences, physics, reconnaissance, reliability and quality control, telecommunication, and epidemiology.Filling a gap in the literature, this self-contained volume brings together a collection of selected chapters illustrating the depth and diversity of theory, methods and applications in the area of scan statistics. The chapters are written by leading experts in the field of scan statistics. Key features includemany current results andnew directions for future research;challenging theoretical methodological research problems; presentationaccessible to bothstatisticians and scientists from other disciplines where scan statistics are employed; emphasis onreal-world applications to areas such as bioinformatics and biosurveillance; andextensive references to research articles, books, and relevant computer software.Scan Statistics is an excellent reference for graduate students and researchers in applied probability and statistics, as well as for scientists in biology, computer science, pharmaceutical science, medicine, geography, quality control, communications, and epidemiology. The work may also be used as a textbook for a graduate-level seminar on scan statistics.
