Radiation damage defects semiconductors (6 resultados)
- Tapa dura
Librería: MB Books, Derbyshire, Reino UnidoMB Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Aceptable
EUR 21,62
Envío por EUR 25,66Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Good. Estado de la sobrecubierta: Good. Condition : Good in jacket. Former university library copy with associated markings. Hard cover. 458pp. No highlighting or annotations to main text. Tape residue on title page. Photo on request.
Idioma: Inglés
Editorial: London/Bristol, Institute of Physics Publishing, 1973
- Tapa dura
Librería: avelibro OHG, Dinkelscherben, Alemaniaavelibro OHG
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasMiembro de asociación: BOEV
Condición: Usado - Excelente
EUR 56,99
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4°, Leinen. Condición: Sehr gut. VIII/458 Seiten : Ausgetragenes Bibliotheksexemplar, Deckel mit Schutzfolie und farblich nicht ganz homogen MIG-30-06A Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1258.
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Regular
EUR 126,12
Envío por EUR 29,15Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
hardcover. Condición: Acceptable. Acceptable. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: London/Bristol, Institute of Physics Publishing, 1973
- Tapa dura
Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 179,95
Envío por EUR 39,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: gut. 1973. Radiation Damage and Defects in Semiconductors In englischer Sprache. pages.
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 279,60
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Defects Spectroscopy in Silicon Diodes | Deep-level traps in semiconductors physics: from ultra-fast recovery to radiation-induced damage | Nicolò Barbero | Taschenbuch | 244 S. | Englisch | 2015 | Edizioni Accademiche Italiane | EAN 9783639773040 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.…
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 69,90
Envío por EUR 61,91Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book focuses on two aspects of deep-level traps in semiconductor devices: on one hand the platinum impurities are studied as example of defects diffused purposefully in pin power ultra-fast diodes in order to increase their recovery performance; on the other hand, the ionizing radiation-induced defects are considered. In this case, some academic samples are studied before and after irradiation with a 3 MeV proton beam. The devices are studied by means of IV, CV, CVT and DLTS techniques. This study deals with the characterization and dynamics of the defects, starting from the realization ab initio of new defects-spectroscopy setups. It is a research performed within the 'IAEA Coordinated Project on Utilization of Ion Accelerators for Studying and Modelling Ion Induced Radiation Defects in Semiconductors and Insulators' (2012-2015).…
