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Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: Spm Applications for Nanometrology
Idioma: Inglés
Publicado por Waltham, William Andrew Inc, 2013
ISBN 10: 1455730580 ISBN 13: 9781455730582
Librería: Thomas Emig, Altlandsberg, Alemania
Miembro de asociación: BOEV
Calificación del vendedor: 2 de 5 estrellas
Original o primera edición
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology (Micro and Nano Technologies)
Libro 140 de 393: Micro and Nano TechnologiesLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: Spm Applications for Nanometrology
Libro 140 de 393: Micro and Nano TechnologiesLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology (Micro and Nano Technologies)
Libro 140 de 393: Micro and Nano TechnologiesLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology (Micro and Nano Technologies)
Libro 140 de 393: Micro and Nano TechnologiesLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology
Libro 140 de 393: Micro and Nano TechnologiesLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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