Models hardware testing (21 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 de 40. Libro 22 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editorial: Springer, 2009
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Editorial: Springer, 2012
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Editorial: Springer, 2009
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Editorial: Springer, 2012
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Taschenbuch. Condición: Neu. Models in Hardware Testing | Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault | Hans-Joachim Wunderlich | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789400730939 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[a…t]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Editorial: Springer, 2012
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are… introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introd…uced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
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Editorial: Springer, 2012
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Editorial: Springer, 2009
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Editorial: Springer, 2012
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Editorial: Springer, 2009
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Editorial: SPRINGER NATURE Dez 2009, 2009
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS techn…ology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 257 pp. Englisch.
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Editorial: Springer Netherlands Mrz 2012, 2012
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMO…S technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 272 pp. Englisch.
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Editorial: Springer Netherlands, 2012
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Introduction of model based hardware testingDescribes fault models for nanoscaled CMOS technologyFault simulation, ATPG and diagnosis algorithms for complex fault modelsComprehensive treatment including memory and low… power aspects.
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Editorial: Springer Netherlands, 2009
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Editorial: Springer, 2012
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
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Editorial: Springer, 2009
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands, Springer Netherlands Mär 2012, 2012
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