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Electron Microscopy and Analysis (Second Edition)
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 6,89
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Electron Microscopy and Analysis (Second Edition)
Librería: -OnTimeBooks-, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 6,91
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Añadir al carritoCondición: very_good. Gently read. May have name of previous ownership, or ex-library edition. Binding tight; spine straight and smooth, with no creasing; covers clean and crisp. Minimal signs of handling or shelving. 100% GUARANTEE! Shipped with delivery confirmation, if you're not satisfied with purchase please return item! Ships USPS Media Mail.
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Electron Microscopy and Analysis (Second Edition)
Librería: HPB-Ruby, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 7,14
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Añadir al carritopaperback. Condición: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521483506 ISBN 13: 9780521483506
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 5,92
Envío por EUR 5,79
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Electron Microscopy and Analysis
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 6,94
Envío por EUR 5,79
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Añadir al carritoCondición: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Electron Microscopy & Analysis 1981: Proceedings of the International Conference, Cambridge, September 1981 (Conference Series / Institute of Physics,)
Idioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing (GB)
ISBN 10: 0854981527 ISBN 13: 9780854981526
Librería: Equipment for Living, Aliquippa, PA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 9,36
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: good. No dust jacket. Ex-library book.
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Middle - Class Mexican - American Population of Waco, Texas (pp. 283-284) AND Scanning Electron Microscopy and Prehistoric Stone Tools (pp. 284-286) AND X-Ray Fluorescence Analysis of Archaeological Obsidian from the Rio Grande Plain, Southern Texas (pp. 286-289) AND Isocitric Dehydrogenase Activity in Experimentally-Induced Polycystic Ovaries (pp. 290-291) AND The Crawfish Fallicambarus macneesei (Black) in Texas (p. 291) AND The Physiological Importance of Potassium Excretion by the Urinary Bladder of Bufo marinus (pp. 291-293) AND Seismic Effects of Russian Nuclear Texts in the Atmosphere (pp. 293-296) (The Texas Journal of Science, Vol. 26, No. 1&2)
Publicado por The Texas Journal of Science, 1975
Librería: Eryops Books, Stephenville, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 0,89
Envío por EUR 5,21
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoNo Binding. Condición: Very Good. ORIGINAL 1975 Articles, disbound from journal; no covers; in very good condition. Journal.
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Electron Microscopy and Analysis 1995
Idioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, 1995
ISBN 10: 0750303573 ISBN 13: 9780750303576
Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 8,94
Envío por EUR 4,77
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: As New. No Jacket. First Edition. Proceedings of the institute of physics electron microscopy and analysis group conference, university of birmingham 12-15 september 1995. Slick gray hardcover binding, no DJ. Like new copy.
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Computer-Assisted Microscopy: The Measurement and Analysis of Images
Librería: Bay State Book Company, North Smithfield, RI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 14,04
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: good. The book is in good condition with all pages and cover intact, including the dust jacket if originally issued. The spine may show light wear. Pages may contain some notes or highlighting, and there might be a "From the library of" label. Boxed set packaging, shrink wrap, or included media like CDs may be missing.
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Electron Microscopy and Analysis
Librería: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 14,46
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Añadir al carritoCondición: Good. Item in good condition and has highlighting/writing on text. Used texts may not contain supplemental items such as CDs, info-trac etc.
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Electron Microscopy and Analysis
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 11,11
Envío por EUR 3,25
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Backscattered Scanning Electron Microscopy and Image Analysis of Sediments and Sedimentary Rocks
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 1998
ISBN 10: 0521453461 ISBN 13: 9780521453462
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 14,49
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Añadir al carritoCondición: Very Good. 1st Edition. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Microstructural Analysis of Bone of the Sauropod Dinosaur Seismosaurus by Transmission Electon Microscopy (FROM: Palaeontology, Volume 37, Part 3, 1994, pp. 493-503).
Publicado por Palaeontological Association., 1994
Librería: Eryops Books, Stephenville, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 2,24
Envío por EUR 5,21
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Añadir al carritoNo Binding. Condición: Very Good. ORIGINAL Article, disbound from journal; no covers; in very good condition. Journal.
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Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons Ltd, U.S.A., 1975
ISBN 10: 0471790206 ISBN 13: 9780471790204
Librería: Charles Berry, Bookseller, Lakeport, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 16,09
Envío por EUR 3,64
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Estado de la sobrecubierta: Good. 1st Edition. Large hardcover in excellent condition: slight handling, owner bookplate on the front endpaper, slight cloth indentation otherwise unmarked. The dust jacket is good with small corner tears, slight spine fading, small green indentation, and is protected by a new, clear, removeable cover. 474 pages, with advanced information throughout. [3.2 lbs]. Book.
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Electron Microscopy and Analysis
Idioma: Inglés
Publicado por Wykeham Publications, London, UK, 1975
ISBN 10: 085109001X ISBN 13: 9780851090016
Librería: BookAddiction (IOBA, IBooknet), Canterbury, Reino Unido
Miembro de asociación: IOBA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 13,12
Envío por EUR 8,10
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoSoftcover. Condición: Very Good. 1st Edition. 192pp. Pictorial light card covers, black and white illustrations throughout. 8vo. Lightly rubbed edges and covers. Internally clean, neat, bright and tight.
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Quantitative Microscopy and Image Analysis: Conference Proceedings
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 5,29
Envío por EUR 16,50
Se envía de Francia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Très bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Couverture différente. Edition 1995. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Different cover. Edition 1995. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Electron Microscopy and Analysis, 1987: Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference Held at UMIST, 8-9 September 1987 (EMAG 87)
Idioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, 1987
ISBN 10: 0854981810 ISBN 13: 9780854981816
Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 17,88
Envío por EUR 4,77
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: As New. Estado de la sobrecubierta: Near Fine. First Edition. proceedings of the institute of physics electron microscopy and analysis group conference, UMIST 8-9 Sept 1987 (EMAG87) . Gray mylar protected DJ.
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Computer-Assisted Microscopy: The Measurement and Analysis of Images
Idioma: Inglés
Publicado por Plenum Pub Corp, New York, New York, U.S.A., 1990
ISBN 10: 0306434105 ISBN 13: 9780306434105
Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,88
Envío por EUR 4,77
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: As New. No Jacket. First Edition, 3rd Printing. Previous owner's name on the front flyleaf, otherwise a fine, as new, hardcover first edition, 3rd printing copy in slick red binding, no DJ. The author is from NCSU, next door to our little bookshop.
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Trace Evidence Analysis : More Cases in Forensic Microscopy and Mute Witnesses
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science & Technology, 2003
ISBN 10: 0123567610 ISBN 13: 9780123567611
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,89
Envío por EUR 5,79
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Electron Microscopy and Analysis
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 8,65
Envío por EUR 15,74
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. Book contains highlighter markings. In poor condition, suitable as a reading copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,550grams, ISBN:0850664144.
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666 ISBN 13: 9780521482660
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 9,62
Envío por EUR 15,74
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Dust jacket in good condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1200grams, ISBN:9780521482660.
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Electron Microscopy and Analysis 1983. Conference Series Number 68
Idioma: Inglés
Publicado por Bristol: Institute of Physics, 1983
ISBN 10: 0854981594 ISBN 13: 9780854981595
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 22,12
Envío por EUR 3,90
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, June 8 (weekend SALE item)* 530 pp., hardcover, ex library but text clean & binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Electron Microscopy and Analysis, 1983: Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference Held at the University of Guildford, 30 August-2 September 1983 (EMAG 83), #68
Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 22,34
Envío por EUR 4,77
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Fine. Estado de la sobrecubierta: Fine. First Edition. This is a fine hardcover first edition copy in a fine, mylar protected DJ, slate blue spine. Series #68.
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Reflection Electron Microscopy and spectotrophy for surface analysis
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2008
ISBN 10: 0521017955 ISBN 13: 9780521017954
Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 9,20
Envío por EUR 20,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Revised ed. 460 S.; Ill. Like new. Shrink wrapped. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 845.
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Electron Microscopy and X-Ray Applications to Environmental and Occupational Health Analysis
Idioma: Inglés
Publicado por Ann Arbor Science Publishers, Ann Arbor, Michigan, 1978
ISBN 10: 025040222X ISBN 13: 9780250402229
Librería: The Curiosity Book Shop, Hardwick, MA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 30,39
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Estado de la sobrecubierta: Good. Red cloth; metallic silver title and spine lettering. This volume contains material presented at the second Symposium on Electron Microscopy andX-Ray Applications to Environmental and Occupational Health Analyses convened in Denver, Colorado, April 25, 26 and 27, 1977. With numerous figures, tables, and black-and-white photograph reproductions. Faint cover edgewear. Dust jacket moderately edgeworn and with some faint soil to rear (white) panel. Otherwise clean, tight, and unworn.
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Practical Scanning Electron Microscopy. Electron and Ion Microprobe Analysis.
Librería: Plurabelle Books Ltd, Cambridge, Reino Unido
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 21,46
Envío por EUR 9,26
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. xviii 582p hardback, dark blue cloth with blue and white jacket, very good condition, binding firm, very light wear to jacket edges, jacket a little tanned, name on endpaper, pages very clean and neat, text and diagrams clear and bright including colour plates, excellent pre-owned copy with few signs of use Language: English.
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Electron Microscopy and Analysis, 1979 Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference Held at the Universi . Series - Institute of Physics; No. 52)
Idioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, England, 1980
ISBN 10: 0854981438 ISBN 13: 9780854981434
Librería: JARE Inc. dba Miles Books, Highland, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 26,77
Envío por EUR 5,16
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Estado de la sobrecubierta: Very Good. First edition. Book is clean and tight. EX lib with minimal markings. Book.
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Proceedings: Fiftieth Annual Meeting, Electron Microscopy Society of America; Twenty-Seventh Annual Meeting, Microbeam Analysis Society; Nineteenth Annual Meeting, Microscopical Society of Canada/Societe de Microscopie du Canada. Boston, Massachusetts, 16-21 August 1992. Part II of the Proceedings
Idioma: Inglés
Publicado por San Francisco Press, San Francisco, CA., 1992
ISBN 10: 9991183248 ISBN 13: 9789991183244
Librería: Tiber Books, Cockeysville, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 27,71
Envío por EUR 4,76
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. 8vo, hardcover. PART II of the Proceedings, pp. 936-1789. No dj, maroon cloth. Vg+ condition. Upper spine very slightly bumped; contents bright, crisp & clean, unread.
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Electron Microscopy and Analysis, Third Edition
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,30
Envío por EUR 15,74
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,450grams, ISBN:0748409688.
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Electron Microscopy and Analysis, Third Edition
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,46
Envío por EUR 15,74
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,550grams, ISBN:9780748409686.
