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Sinopsis
Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.
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Acerca del autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Publicado por
Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666
ISBN 13: 9780521482660
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666
ISBN 13: 9780521482660
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Cambridge University Press, 1996
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Publicado por
Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666
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Condición: New. A self-contained book on electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. Num Pages: 458 pages, 224 b/w illus. 10 tables. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 25. Weight in Grams: 1097. . 1996. hardcover. . . . . Nº de ref. del artículo: V9780521482660
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Publicado por
Cambridge University Press, 2015
ISBN 10: 0521482666
ISBN 13: 9780521482660
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applicat. Nº de ref. del artículo: 446937372
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis (Hardcover)
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Cambridge University Press, Cambridge, 1996
ISBN 10: 0521482666
ISBN 13: 9780521482660
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Hardcover. Condición: new. Hardcover. In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature. This book is a source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. Nº de ref. del artículo: 9780521482660
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666
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Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
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Condición: New. A self-contained book on electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. Num Pages: 458 pages, 224 b/w illus. 10 tables. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 25. Weight in Grams: 1097. . 1996. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. Nº de ref. del artículo: V9780521482660
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666
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Hardcover. Condición: Brand New. 436 pages. 10.25x7.25x1.00 inches. In Stock. Nº de ref. del artículo: x-0521482666
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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ISBN 10: 0521482666
ISBN 13: 9780521482660
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature. Nº de ref. del artículo: 9780521482660
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666
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