Microelectronic reliability test diagnostics (8 resultados)
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Librería: Book Alley, Pasadena, CA, Estados Unidos de AmericaBook Alley
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hardcover. Condición: Very Good. Initials on bottom, otherwise clean and tight.
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Condición: New.
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Condición: New. In.
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Gebunden. Condición: New. KlappentextText/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures.
