Importe total (1 artículo artículos):
Destino del pedido:
logic testing design testability de fujiwara hideo (11 resultados)
Comentarios
Ha buscado:
Autor :
fujiwara hideo
,
Título :
logic testing design testability
Modificar la búsqueda
Ir a los resultados principales
Filtros de búsqueda
Tipo de artículo
- Todos los tipos de productos
- Libros (11)
- Revistas y publicaciones (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Cómics (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Partituras (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Arte, grabados y pósters (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Fotografías (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Mapas (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Manuscritos y coleccionismo de papel (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Condición
Encuadernación
Más atributos
- Primera edición (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Firmado (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Sobrecubierta (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Con imágenes (7)
- No impresión bajo demanda (10)
Idioma (1)
Gastos de envío gratis
- Envío gratis a España (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
-
Logic Testing and Design for Testability; Mit Press Series in Computer Systems;
Librería: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 8,45
Convertir monedaEUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritogebundene Ausgabe. Condición: Gut. 284 Seiten; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
-
Logic Testing and Design for Testability
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 6,00 gastos de envío desde Francia a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Petite(s) trace(s) de pliure sur la couverture. Légères traces d'usure sur la couverture. Couverture différente. Edition 1985. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Slightly creased cover. Slight signs of wear on the cover. Different cover. Edition 1985. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
-
Logic Testing and Design for Testability (Paperback or Softback)
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 41,30
Convertir monedaEUR 10,98 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoPaperback or Softback. Condición: New. Logic Testing and Design for Testability 0.9. Book.
-
Logic Testing and Design for Testability
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 38,90
Convertir monedaEUR 17,55 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
-
Logic Testing and Design for Testability
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 45,97
Convertir monedaEUR 17,55 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
-
Logic Testing and Design for Testability
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,78
Convertir monedaEUR 11,91 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 298 pages. 8.90x5.98x0.87 inches. In Stock.
-
Logic Testing and Design for Testability
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,78
Convertir monedaEUR 17,87 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
-
Logic Testing and Design for Testability
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,20
Convertir monedaEUR 17,87 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
-
Logic Testing and Design for Testability (MIT Press Classics)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 38,79
Convertir monedaEUR 65,86 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
-
Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 9,26
Convertir monedaEUR 94,83 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
Logic Testing and Design for Testability
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 47,62
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
