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Publicado por Springer International Publishing AG, CH, 2016
ISBN 10: 3319402099 ISBN 13: 9783319402093
Idioma: Inglés
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. 1st ed. 2017. This book provides a comprehensive set of characterization, prediction, optimization, evaluation, and evolution techniques for a diagnosis system for fault isolation in large electronic systems. Readers with a background in electronics design or system engineering can use this book as a reference to derive insightful knowledge from data analysis and use this knowledge as guidance for designing reasoning-based diagnosis systems. Moreover, readers with a background in statistics or data analytics can use this book as a practical case study for adapting data mining and machine learning techniques to electronic system design and diagnosis. This book identifies the key challenges in reasoning-based, board-level diagnosis system design and presents the solutions and corresponding results that have emerged from leading-edge research in this domain. It covers topics ranging from highly accurate fault isolation, adaptive fault isolation, diagnosis-system robustness assessment, to system performance analysis and evaluation, knowledge discovery and knowledge transfer. With its emphasis on the above topics, the book provides an in-depth and broad view of reasoning-based fault diagnosis system design.Explains and applies optimized techniques from the machine-learning domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing;.Demonstrates techniques based on industrial data and feedback from an actual manufacturing line;.Discusses practical problems, including diagnosis accuracy, diagnosis time cost, evaluation of diagnosis system, handling of missing syndromes in diagnosis, and need for fast diagnosis-system development.
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Publicado por Springer International Publishing AG, CH, 2016
ISBN 10: 3319402099 ISBN 13: 9783319402093
Idioma: Inglés
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. 1st ed. 2017. This book provides a comprehensive set of characterization, prediction, optimization, evaluation, and evolution techniques for a diagnosis system for fault isolation in large electronic systems. Readers with a background in electronics design or system engineering can use this book as a reference to derive insightful knowledge from data analysis and use this knowledge as guidance for designing reasoning-based diagnosis systems. Moreover, readers with a background in statistics or data analytics can use this book as a practical case study for adapting data mining and machine learning techniques to electronic system design and diagnosis. This book identifies the key challenges in reasoning-based, board-level diagnosis system design and presents the solutions and corresponding results that have emerged from leading-edge research in this domain. It covers topics ranging from highly accurate fault isolation, adaptive fault isolation, diagnosis-system robustness assessment, to system performance analysis and evaluation, knowledge discovery and knowledge transfer. With its emphasis on the above topics, the book provides an in-depth and broad view of reasoning-based fault diagnosis system design.Explains and applies optimized techniques from the machine-learning domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing;.Demonstrates techniques based on industrial data and feedback from an actual manufacturing line;.Discusses practical problems, including diagnosis accuracy, diagnosis time cost, evaluation of diagnosis system, handling of missing syndromes in diagnosis, and need for fast diagnosis-system development.
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Publicado por Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319402099 ISBN 13: 9783319402093
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Explains and applies optimized techniques from the machine-learning domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturingDemonstrates techniques based on industrial data and feedback from an actual .
Publicado por Springer International Publishing, 2018
ISBN 10: 3319820540 ISBN 13: 9783319820545
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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