Importe total (1 artículo artículos):
Destino del pedido:
identification defects semiconductors (8 resultados)
Ir a los resultados principales
Filtros de búsqueda
Tipo de artículo
- Todos los tipos de productos
- Libros (8)
- Revistas y publicaciones (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Cómics (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Partituras (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Arte, grabados y pósters (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Fotografías (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Mapas (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Manuscritos y coleccionismo de papel (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Condición Más información
- Nuevo (4)
- Como nuevo, Excelente o Muy bueno (2)
- Bueno o Aceptable (1)
- Regular o Pobre (1)
- Tal como se indica (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Encuadernación
Más atributos
- Primera edición (1)
- Firmado (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Sobrecubierta (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Con imágenes (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- No impresión bajo demanda (8)
Idioma (2)
Precio
- Cualquier precio
- Menos de EUR 20 (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- EUR 20 a EUR 45
- Más de EUR 45
Gastos de envío gratis
Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
-
Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materials Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 1985
ISBN 10: 0931837111 ISBN 13: 9780931837111
Librería: BookDepart, Shepherdstown, WV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 28,58
Envío por EUR 7,29
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: UsedGood. Hardcover; symposium held April 15-18, 1985, in San Francisco; fading and shelf wear to exterior; binding slightly cocked; scrape to side edge of front cover; note written on table of contents page, otherwise text is clean; former owner's stamping inside rear board; contents in good condition.
-
Semiconductors and Semimetals - Identification of Defects in Semiconductors
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 124,43
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
-
Semiconductors and Semimetals - Identification of Defects in Semiconductors
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 124,43
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
Identification of Defects in Semiconductors
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,69
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 434 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
-
Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 224,32
Envío por EUR 28,96
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
-
Identification of Defects in Semiconductors
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 321,41
Envío por EUR 14,48
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 396 pages. 9.00x5.75x0.90 inches. In Stock.
-
Identification of Defects in Semiconductors (Semiconductors and Semimetals, Volume 51A)
Librería: Saul54, Lynn, MA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 408,50
Envío por EUR 6,91
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New. No Jacket. 1st Edition. Academic Press (1998). New Hardcover, no dj. Naroon cloth Gilt Front and Spine titles. 9.25"x6.25"x1.1". be42744.
-
Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Publicado por Academic Press, 1998
ISBN 10: 0471191973 ISBN 13: 9780471191971
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,17
Envío por EUR 3,24
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
