Identification defects semiconductors (9 resultados)
Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materia Ls Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)
Johnson, Noble M., Stephen G. Bishop, And George D. Watkins, Editors
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Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Paperback. Condición: Brand New. 396 pages. 9.00x5.75x0.90 inches. In Stock.
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- Primera edición
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Hardcover. Condición: New. No Jacket. 1st Edition. Academic Press (1998). New Hardcover, no dj. Naroon cloth Gilt Front and Spine titles. 9.25"x6.25"x1.1". be42744.
Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Editorial: Academic Press, 1998
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Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Editorial: Academic Press, 1998
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