Identification defects semiconductors (8 resultados)
Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materia Ls Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)
Johnson, Noble M., Stephen G. Bishop, And George D. Watkins, Editors
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Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Editorial: Academic Press, 1998
- Tapa dura
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Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Editorial: Academic Press, 1998
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Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaHPB-Red
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EUR 114,25
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