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electrothermal analysis vlsi systems de yi kan cheng (34 resultados)
Autor :
yi kan cheng
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Título :
electrothermal analysis vlsi systems
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
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Electrothermal Analysis of Vlsi Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
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Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Electrothermal Analysis of Vlsi Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Electrothermal Analysis of Vlsi Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Rheinberg-Buch Andreas Meier eK, Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware -Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students. 240 pp. Englisch.
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 140,50
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Electrothermal Analysis of Vlsi Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. This useful book addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. It discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires. The authors present three important applications of VLSI electro.
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 2000
ISBN 10: 079237861X ISBN 13: 9780792378617
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 133,71
EUR 10,50 gastos de envío desde Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . .
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Electrothermal Analysis of VLSI Systems | Yi-Kan Cheng (u. a.) | Taschenbuch | xxiii | Englisch | 2013 | Springer US | EAN 9781475773736 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Publicado por Springer US, Springer New York Apr 2013, 2013
ISBN 10: 1475773730 ISBN 13: 9781475773736
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 60,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware -Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems.Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration).Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis.Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 240 pp. Englisch.
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 2000
ISBN 10: 079237861X ISBN 13: 9780792378617
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 169,10
EUR 9,11 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Publicado por Springer US, Springer New York Apr 2013, 2013
ISBN 10: 1475773730 ISBN 13: 9781475773736
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Publicado por Springer US, Springer US, 2000
ISBN 10: 079237861X ISBN 13: 9780792378617
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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EUR 114,36
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
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EUR 79,25
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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EUR 208,89
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This useful book addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. It discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires. The authors present three important applications of VLSI electrothermal analysis: temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement, and temperature-driven power and timing analysis. 240 pp. Englisch.
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Librería: moluna, Greven, Alemania
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Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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