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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty.
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,00
EUR 30,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoXI, 123 p. 71 illus. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. Lecture Notes in Electrical Engineering Bd. 115. Sprache: Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,10
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,44
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 112,95
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 136.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 108,49
EUR 13,59 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,20
EUR 105,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,92
Gratis gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,92
Gratis gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,04
EUR 13,59 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 156,24
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 136.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering)
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,00
EUR 11,34 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2013 edition. 134 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,80
EUR 70,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty | Smita Krishnaswamy (u. a.) | Taschenbuch | xii | Englisch | 2014 | Springer Netherland | EAN 9789400797987 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Publicado por Springer Netherlands, Springer Netherlands Sep 2012, 2012
ISBN 10: 9048196434 ISBN 13: 9789048196432
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 60,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Publicado por Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 109,94
EUR 61,10 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Publicado por Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2012
ISBN 10: 9048196434 ISBN 13: 9789048196432
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 109,94
EUR 61,89 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Integrated circuits (ICs) increasingly exhibit uncertain characteristics due to soft errors, inherently probabilistic devices, and manufacturing variability. As device technologies scale, these effects can be detrimental to the reliability of logic circuits. To improve future semiconductor designs, this book describes methods for analyzing, designing, and testing circuits subject to probabilistic effects. The authors first develop techniques to model inherently probabilistic methods in logic circuits and to test circuits for determining their reliability after they are manufactured. Then, they study error-masking mechanisms intrinsic to digital circuits and show how to leverage them to design more reliable circuits. The book describes techniques for: Modeling and reasoning about probabilistic behavior in logic circuits, including a matrix-based reliability-analysis framework; Accurate analysis of soft-error rate (SER) based on functional-simulation, sufficiently scalable for use in gate-level optimizations; Logic synthesis for greater resilience against soft errors, which improves reliability using moderate overhead in area and performance; Test-generation and test-compaction methods aimed at probabilistic faults in logic circuits that facilitate accurate and efficient post-manufacture measurement of soft-error susceptibility.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering (115))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 155,37
EUR 28,35 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 167,05
EUR 28,35 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,56
EUR 7,37 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 136 71 Illus.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 119,42
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 136.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Publicado por Springer Netherlands Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Idioma: Inglés
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 23,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior. 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Publicado por Springer Netherlands Sep 2012, 2012
ISBN 10: 9048196434 ISBN 13: 9789048196432
Idioma: Inglés
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 23,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Integrated circuits (ICs) increasingly exhibit uncertain characteristics due to soft errors, inherently probabilistic devices, and manufacturing variability. As device technologies scale, these effects can be detrimental to the reliability of logic circuits. To improve future semiconductor designs, this book describes methods for analyzing, designing, and testing circuits subject to probabilistic effects. The authors first develop techniques to model inherently probabilistic methods in logic circuits and to test circuits for determining their reliability after they are manufactured. Then, they study error-masking mechanisms intrinsic to digital circuits and show how to leverage them to design more reliable circuits. The book describes techniques for: Modeling and reasoning about probabilistic behavior in logic circuits, including a matrix-based reliability-analysis framework; Accurate analysis of soft-error rate (SER) based on functional-simulation, sufficiently scalable for use in gate-level optimizations; Logic synthesis for greater resilience against soft errors, which improves reliability using moderate overhead in area and performance; Test-generation and test-compaction methods aimed at probabilistic faults in logic circuits that facilitate accurate and efficient post-manufacture measurement of soft-error susceptibility. 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits under Uncertainty
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,27
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a comprehensive overview of Logic CircuitsCombines theory with practical examplesMulti-discipline approach to the hot topic of uncertaintyLogic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caus.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,27
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a comprehensive overview of Logic CircuitsCombines theory with practical examplesMulti-discipline approach to the hot topic of uncertaintyLogic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caus.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 157,05
EUR 7,37 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 136.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,80
EUR 70,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty | Smita Krishnaswamy (u. a.) | Buch | xii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789048196432 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Publicado por Springer Netherlands, Springer Netherlands Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
EUR 60,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,58
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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