Atomic force microscopy imaging measuring de bellitto (9 resultados)
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Editorial: Intech, 2016
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Buch. Condición: Neu. Atomic Force Microscopy | Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale | Victor Bellitto | Buch | 270 S. | Englisch | 2012 | IntechOpen | EAN 9789535104148 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Books on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bod[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand. …
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Buch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - With the advent of the atomic force microscope (AFM) came an extremely valuable analytical resource and technique useful for the qualitative and quantitative surface analysis with sub-nanometer resolution. In addition, samples studied with an AFM do not require any special pretreatments that may alter or damage the sample and permits a three dimensional investigation of the surface. This book presents a collection of current research from scientists throughout the world that employ atomic force microscopy in their investigations. The technique has become widely accepted and used in obtaining valuable data in a wide variety of fields. It is impressive to see how, in a short time period since its development in 1986, it has proliferated and found many uses throughout manufacturing, research and development.…
