Advanced mathematical computational tools (71 resultados)

Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Comp, 2012
Serie: Libro 73 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: suffolkbooks, center moriches, NY, Estados Unidos de Americasuffolkbooks
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EUR 39,20
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Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing X (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences): 86
Franco Pavese,Wolfram Bremser,Anna Chunovkina,Nicolas Fischer,Alistair B Forbes
- Tapa dura
Librería: BookstoYou, Hay-on-Wye, HEREF, Reino UnidoBookstoYou
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Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology IV (Advances in Mathematics for Applied Sciences)
Ciarlini, P. - Forbes, A. B. - Pavese, F. Richter, D. (Editors)
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, Singapore, 2000
Serie: Libro 46 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Il Salvalibro, Foligno, PG, ItaliaIl Salvalibro
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Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, 2009
Serie: Libro 67 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de AmericaBOOKWEST
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Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing XI (Advances in Mathematics for Applied Sciences)
Alistair B Forbes;Anna Chunovkina;Sascha Eichstadt;Nien-Fan Zhang;Franco Pavese
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Co, 2018
Serie: Libro 78 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing XI (Advances in Mathematics for Applied Sciences)
By Alistair B Forbes;Anna Chunovkina;Sascha Eichstadt;Nien-Fan Zhang;Franco Pavese (Author),
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Co, 2018
Serie: Libro 78 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Idioma: Inglés
Editorial: WSPC, 2022
Serie: Libro 79 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Xii (Series On Advances In Mathematics For Applied Sciences)
By A G Chunovkina (Editor), F Pavese (Editor), N F Zhang (Editor), A B Forbes (Editor),
Idioma: Inglés
Editorial: WSPC, 2022
Serie: Libro 79 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, 2009
Serie: Libro 67 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, 2009
Serie: Libro 67 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, 2009
Serie: Libro 67 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
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Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Xi: 89 (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences)
Alistair B Forbes;Anna Chunovkina;Sascha Eichstadt;Nien-Fan Zhang;Franco Pavese
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Co, 2018
Serie: Libro 78 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 135,78
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Condición: Used.

Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Xi: 89 (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences)
Alistair B Forbes;Anna Chunovkina;Sascha Eichstadt;Nien-Fan Zhang;Franco Pavese
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Co, 2018
Serie: Libro 78 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 137,41
Envío por EUR 7,58Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used.

Idioma: Inglés
Editorial: WSPC, 2022
Serie: Libro 79 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 144,51
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Condición: Used.

Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2006
Serie: Libro 59 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Condición: New. pp. xi + 363.

Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Xi: 89 (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences)
Alistair B Forbes;Anna Chunovkina;Sascha Eichstadt;Nien-Fan Zhang;Franco Pavese
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Co, 2018
Serie: Libro 78 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Idioma: Inglés
Editorial: WSPC, 2022
Serie: Libro 79 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 146,39
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Condición: Used.

- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 157,83
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2009
Serie: Libro 67 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 155,21
Envío por EUR 3,47Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used. pp. xii + 406.

Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2006
Serie: Libro 59 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 151,37
Envío por EUR 7,58Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. pp. xi + 363 Illus.

- Tapa dura
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de AmericaPBShop.store US
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EUR 163,57
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

Idioma: Inglés
Editorial: WSPC, 2022
Serie: Libro 79 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 149,78
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used.

Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2009
Serie: Libro 67 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 158,89
Envío por EUR 7,58Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used. pp. xii + 406 Illus.

- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 159,43
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ADVANCED MATHEMATICAL AND COMPUTATIONAL TOOLS IN METROLOGY AND TESTING VIII (Advances in Mathematics for Applied Sciences)
Pavese F. Zhang N.F. Perruchet C. Linares J.M. Forbes A.B. Bar M.
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2009
Serie: Libro 67 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 159,64
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used. pp. xii + 406.

Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2012
Serie: Libro 73 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de AmericaPBShop.store US
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EUR 174,76
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing XI
Forbes, Alistair B. (EDT); Zhang, Nien Fan (EDT); Chunovkina, A. (EDT); Eichstadt, S. (EDT); Pavese, Franco (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Co, 2018
Serie: Libro 78 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 177,36
Envío por EUR 2,30Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Xi
Alistair B Forbes;Anna Chunovkina;Sascha Eichstadt;Nien-Fan Zhang;Franco Pavese
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2018
Serie: Libro 78 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de AmericaPBShop.store US
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EUR 179,74
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

Idioma: Inglés
Editorial: WSPC, 2018
Serie: Libro 78 de 80 - Advances in Mathematics for Applied Sciences
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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EUR 68,63
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 458 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This volume contains original, refereed contributions by researchers from institutions and laboratories across the world that are involved in metrology and testing. They were adapted from presentations made at the eleventh edition of the Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing conference held at the University of Strathclyde, Glasgow, in September 2017, organized by IMEKO Technical Committee 21, the National Physical Laboratory, UK, and the University of Strathclyde. The papers present new modeling approaches, algorithms and computational methods for analyzing data from metrology systems and for evaluation of the measurement uncertainty, and describe their applications in a wide range of measurement areas.This volume is useful to all researchers, engineers and practitioners who need to characterize the capabilities of measurement systems and evaluate measurement data. Through the papers written by experts working in leading institutions, it covers the latest computational approaches and describes applications to current measurement challenges in engineering, environment and life sciences.…