Isbn: 9786131520884 - modélisation du plasma spatial: fiabilité des satellites (omn.univ.europ.) (9 resultados)

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    Editorial: �ditions universitaires europ�ennes 2014-02-17, 2014

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    Editorial: Éditions universitaires européennes, 2014

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    Taschenbuch. Condición: Neu. Modélisation du Plasma Spatial | Fiabilité des Satellites | Malek Benslama (u. a.) | Taschenbuch | 120 S. | Französisch | 2014 | Éditions universitaires européennes | EAN 9786131520884 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu. …

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    Editorial: ?ditions universitaires europ?ennes, 2014

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    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -L'environnement radiatif est l'un des problèmes majeurs pour les circuits électroniques embarqués à bord des satellites en orbite. Plusieurs dispositifs à semi-conducteur présent dans l'espace sont exposés aux ions lourds des rayons cosmiques galactiques (en plus d'autres sources possibles) et à un grand flux de proton provenant des événements solaires et/ou d'une ceinture de radiation planétaire. Il est impératif durant les différentes phases de construction d'un satellite de tester sa fiabilité et de la charge utile embarquée. Chaque élément constitutif du satellite doit subir des tests de qualification en environnement sévère. Les tests au sol permettent de jauger les capacités fonctionnelles en prenant soin d'assurer la plus meilleure des fiabilités. Parmi les éléments constitutifs de la charge utile du satellite, l'électronique embarquée est sujette à ce qu'on désigne communément par panne. Pour cela, une étude détaillée de la fiabilité doit être entreprise. 120 pp. Französisch.…

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    Editorial: Éditions Universitaires Européennes, 2014

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    Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - L'environnement radiatif est l'un des problèmes majeurs pour les circuits électroniques embarqués à bord des satellites en orbite. Plusieurs dispositifs à semi-conducteur présent dans l'espace sont exposés aux ions lourds des rayons cosmiques galactiques (en plus d'autres sources possibles) et à un grand flux de proton provenant des événements solaires et/ou d'une ceinture de radiation planétaire. Il est impératif durant les différentes phases de construction d'un satellite de tester sa fiabilité et de la charge utile embarquée. Chaque élément constitutif du satellite doit subir des tests de qualification en environnement sévère. Les tests au sol permettent de jauger les capacités fonctionnelles en prenant soin d'assurer la plus meilleure des fiabilités. Parmi les éléments constitutifs de la charge utile du satellite, l'électronique embarquée est sujette à ce qu'on désigne communément par panne. Pour cela, une étude détaillée de la fiabilité doit être entreprise.…

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    Editorial: Éditions Universitaires Européennes Feb 2014, 2014

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    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -L'environnement radiatif est l'un des problèmes majeurs pour les circuits électroniques embarqués à bord des satellites en orbite. Plusieurs dispositifs à semi-conducteur présent dans l'espace sont exposés aux ions lourds des rayons cosmiques galactiques (en plus d'autres sources possibles) et à un grand flux de proton provenant des événements solaires et/ou d'une ceinture de radiation planétaire. Il est impératif durant les différentes phases de construction d'un satellite de tester sa fiabilité et de la charge utile embarquée. Chaque élément constitutif du satellite doit subir des tests de qualification en environnement sévère. Les tests au sol permettent de jauger les capacités fonctionnelles en prenant soin d'assurer la plus meilleure des fiabilités. Parmi les éléments constitutifs de la charge utile du satellite, l'électronique embarquée est sujette à ce qu'on désigne communément par panne. Pour cela, une étude détaillée de la fiabilité doit être entreprise.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 120 pp. Französisch.…