ISBN: 9783642083723 - scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis: 45 (springer series in optical sciences) (11 resultados)
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.…
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Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2010
Serie: Libro 56 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy2nd, completely revised and updated editionScanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe .…
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer Dez 2010, 2010
Serie: Libro 56 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch.…
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer Dez 2010, 2010
Serie: Libro 56 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 544 pp. Englisch.…
