Isbn: 9783540434436 - anomalous x-ray scattering for materials characterization: atomic-scale structure determination: 179 (springer tracts in modern physics, 179) (9 resultados)
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Editorial: Springer, 2002
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Idioma: Inglés
Editorial: Berlin, Springer, 2002
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2002
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Editorial: Springer, 2002
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Editorial: Springer, 2002
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Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2002
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Editorial: Springer, 2002
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