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9783540434436 - Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination: 179 (Springer Tracts in Modern Physics, 179) de Waseda, Yoshio (11 resultados)
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Greenworld Books, Arlington, TX, Estados Unidos de America
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)
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Anomalous x-ray scattering for materials characterization. Atomic scale structure determination.
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2002
ISBN 10: 3540434437 ISBN 13: 9783540434436
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics (179))
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization : Atomic-Scale Structure Determination
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsIdioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin, Springer, 2002
ISBN 10: 3540434437 ISBN 13: 9783540434436
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - The production of multi layered thin films with sufficient reliability is a key technology for device fabrication in micro electronics. In the Co/Cu type multi layers, for example, magnetoresistance has been found as large as 80 % at 4. 2 K and 50 % at room temperature. In addition to such gigantic mag netoresistance, these multi layers indicate anti ferromagnetic and ferromag netic oscillation behavior with an increase in the thickness of the layers of the non magnetic component. These interesting properties of the new synthetic flmctional materials are attributed to their periodic and interracial structures at a microscopic level, although the origin of such peculiar features is not fully understood. Information on the surface structure or the number density of atoms in the near surface region may provide better insight. Amorphous alloys, frequently referred to as metallic glasses, are produced by rapid quenching from the melt. The second generation amorphous alloys, called 'bulk amorphous alloys', have been discovered in some Pd based and Zr based alloy systems, with a super cooled liquid region at more than 120 K. In these alloy systems, one can obtain a sample thickness of several centime ters. Growing scientific and technological curiosity about the new amorphous alloys has focused on the fundamental factors, such as the atomic scale struc ture, which are responsible for the thermal stability with certain chemical compositions.
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Libro 83 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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