EUR 18,89
Cantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. 385 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. w00843 9783540239154 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 750.
Librería: Sigrun Wuertele buchgenie_de, Altenburg, Alemania
EUR 29,46
Cantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Wie neu - gebraucht. Gebundene Ausgabe 385 S. Sehr guter Zustand, ohne Namenseintrag Ronald Maier, Thomas Hädrich, René Peinl Zustand: 1, Wie neu - gebraucht, Gebundene Ausgabe Springer , 2005 385 S. , Enterprise knowledge infrastructures. With 50 tables, Ronald Maier, Thomas Hädrich, Rene Peinl.
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
EUR 88,67
Cantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
EUR 88,67
Cantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
EUR 18,90
Cantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Sehr gut. Hardcover, sehr guter Zustand, Springer Verlag 2005, Versand weltweit / international shipping.
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
EUR 105,32
Cantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. ix + 385 1st Edition.
EUR 104,77
Cantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. ix + 385 Illus.
EUR 104,34
Cantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. ix + 385.
EUR 106,95
Cantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Neu. Gebundene Ausgabe Neu Zustand: 11, Neu, Gebundene Ausgabe Springer Verlag , 2005 , Enterprise Knowledge Infrastructures, Ronald Maier, Thomas Hadrich, et al.