ISBN: 9783540232490 - infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: phonons, plasmons, and polaritons: 209 (springer tracts in modern physics, 209) (4 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2004
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes a powerful new method for investigating semiconductor layer structuresAuthor is a leading expert in the fieldThe study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spe.…
