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9781461372318 - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques: 494 (The Springer International Series in Engineering and Computer Science) (15 resultados)
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Taschenbuch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461372318 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494)
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Failure Analysis of Integrated Circuits (eng)
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: moluna, Greven, Alemania
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1461372313 ISBN 13: 9781461372318
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 272 pp. Englisch.
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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