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9781441995476 - Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs: 0 (SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering) de Bou-Sleiman, Sleiman (13 resultados)
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,22
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs (SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering)
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,77
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 62,45
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,76
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringIdioma: Inglés
Publicado por Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1441995471 ISBN 13: 9781441995476
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,39
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs | Sleiman Bou-Sleiman (u. a.) | Taschenbuch | SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering | xvii | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441995476 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 43,16
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. .
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Bou-Sleiman:Built-in-Self-Test (eng)
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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EUR 46,22
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringIdioma: Inglés
Publicado por Springer New York, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441995471 ISBN 13: 9781441995476
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. 108 pp. Englisch.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 48,37
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Applies Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC) to real applications in nanometer wireless radio design Provides on-chip testing capabilities as well as on-the-fly calibration abilities to render mixed-mode designs robust from the out.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 de 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringIdioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441995471 ISBN 13: 9781441995476
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 108 pp. Englisch.
