9781402077524 - testing static random access memories: defects, fault models and test patterns: 26 (frontiers in electronic testing, 26) de hamdioui, said (16 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer, 2004
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer, 2004
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, Copernicus, 2004
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed b…y those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer, 2004
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Editorial: Springer US Mrz 2004, 2004
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical ackn…owledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing. 244 pp. Englisch.
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Editorial: Springer US, 2004
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It co…ntributes to the technical ackno.
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Editorial: Springer, 2004
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Buch. Condición: Neu. Testing Static Random Access Memories | Defects, Fault Models and Test Patterns | Said Hamdioui | Buch | Frontiers in Electronic Testing | xx | Englisch | 2004 | Springer | EAN 9781402077524 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[…at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, Copernicus Mär 2004, 2004
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowle…dge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed.Features:Fault primitive based analysis of memory faultsA complete framework of and classification memory faultsA systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithmsA systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAMChallenges and trends in embedded memory testing.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 244 pp. Englisch.
