ISBN: 9780890064504 - introduction to semiconductor device yield modeling (electronic materials & devices library) (18 resultados)
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Condición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,400grams, ISBN:9780890064504. …
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Gebunden. Condición: New. InhaltsverzeichnisYield. Fault Probability. Effect of Defect Sizes on the Fault Probability. Counting Techniques. Yield Equations. Defect Density and Scaling Rules. Yield Prediction. Yield With Redundancy. A Yield Comparison. Productivit.
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Condición: New. pp. 108 9:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Case Laminate on Creme w/Gloss Lam.
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Buch. Condición: Neu. Neuware - This text, the first of its kind, delivers a systematically organized introduction to the theory and practice of yield prediction. The book addresses the economic need for accurate yield prediction, and clarifies the important role it plays in the semiconductor industry.…
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