Isbn: 9780818687860 - test generation for very large scale integration chips (3 resultados)

ISBN: 
Refinar con la Búsqueda avanzada

Filtrar la búsqueda

  • Libros (3)

Más información

a

Intervalo de precios personalizado (EUR)

a

  • Idioma: Inglés

    Editorial: IEEE Computer Society Press,U.S., 1988

    081868786X / 9780818687860

    • Tapa dura

    Librería: avelibro OHG, Dinkelscherben, Alemaniaavelibro OHG

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Miembro de asociación: BOEV

    Condición: Usado - Excelente

    EUR 29,00

    Envío por EUR 10,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponible

    4°, Gebundene Ausgabe. Condición: Sehr gut. 400 Seiten Ausgetragenes Bibliotheksexemplar, Einband leicht berieben, Papier in altersgemäßem sehr gutem Zustand. B02-03-01F Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1305.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: IEEE Computer Society Press,U.S., 1988

    081868786X / 9780818687860

    • Tapa dura

    Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Usado - Excelente

    EUR 29,61

    Envío por EUR 105,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 2 disponibles

    Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 400 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: IEEE Computer Society, 1988

    081868786X / 9780818687860

    • Tapa dura

    Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de AmericaBOOKWEST

    Vendedor de 3 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 181,16

    Envío por EUR 4,39 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponible

    Hardcover. Condición: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.