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9780818687860 - Test Generation for Very Large Scale Integration Chips de Agrawal, Vishwani D.; Seth, S.C. (3 resultados)
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Idioma: Inglés
Publicado por IEEE Computer Society Press,U.S., 1988
ISBN 10: 081868786X ISBN 13: 9780818687860
Librería: avelibro OHG, Dinkelscherben, Alemania
Miembro de asociación: BOEV
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carrito4°, Gebundene Ausgabe. Condición: Sehr gut. 400 Seiten Ausgetragenes Bibliotheksexemplar, Einband leicht berieben, Papier in altersgemäßem sehr gutem Zustand. B02-03-01F Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1305.
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Idioma: Inglés
Publicado por IEEE Computer Society Press,U.S., 1988
ISBN 10: 081868786X ISBN 13: 9780818687860
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 29,61
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 400 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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