Sinopsis
Reprints of papers taken from 18 different journals, published between 1967 and 1987. They give a comprehensive overview of very large-scale integration testing. No significant prior experience in testing is assumed. Concepts and current practices are emphasized. Chapters are preceded by a tutorial. Graphs and illustrations are featured in most pages. Topics include fault modeling, test generation, test evaluation, testability analysis, design for testability, and automatic test equipment. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Reseña del editor
Reprints of papers taken from 18 different journals, published between 1967 and 1987. They give a comprehensive overview of very large-scale integration testing. No significant prior experience in testing is assumed. Concepts and current practices are emphasized. Chapters are preceded by a tutorial.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Resultados de la búsqueda para Test Generation for Very Large Scale Integration Chips
Imagen del vendedor
Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Publicado por
IEEE Computer Society Press,U.S., 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: avelibro OHG, Dinkelscherben, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
4°, Gebundene Ausgabe. Condición: Sehr gut. 400 Seiten Ausgetragenes Bibliotheksexemplar, Einband leicht berieben, Papier in altersgemäßem sehr gutem Zustand. B02-03-01F Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1305. Nº de ref. del artículo: 1873583
Comprar usado
EUR 29,00
Envío por EUR 10,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Publicado por
IEEE Computer Society Press,U.S., 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 400 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Nº de ref. del artículo: 42682699/202
Comprar usado
EUR 29,61
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 2 disponibles
Imagen de archivo
Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Publicado por
IEEE Computer Society, 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Nuevo
Tapa dura
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA. Nº de ref. del artículo: 110C1-081868786X
Comprar nuevo
EUR 179,78
Envío por EUR 4,36
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles