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Sinopsis
Reprints of papers taken from 18 different journals, published between 1967 and 1987. They give a comprehensive overview of very large-scale integration testing. No significant prior experience in testing is assumed. Concepts and current practices are emphasized. Chapters are preceded by a tutorial. Graphs and illustrations are featured in most pages. Topics include fault modeling, test generation, test evaluation, testability analysis, design for testability, and automatic test equipment. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.
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Reseña del editor
Reprints of papers taken from 18 different journals, published between 1967 and 1987. They give a comprehensive overview of very large-scale integration testing. No significant prior experience in testing is assumed. Concepts and current practices are emphasized. Chapters are preceded by a tutorial.
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Publicado por
IEEE Computer Society, 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
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Hardcover. Condición: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Petite(s) trace(s) de pliure sur la couverture. Légères traces d'usure sur la couverture. Salissures sur la tranche. Couverture différente. Edition 1988. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisat ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Slightly creased cover. Slight signs of wear on the cover. Stains on the edge. Different cover. Edition 1988. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. Nº de ref. del artículo: E-812-693
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Test Generation for VLSI Chips
Publicado por
Computer Society Press, 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Rob the Book Man, Vancouver, WA, Estados Unidos de America
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Hardcover. Condición: Very Good. hardcover in very good + condition. Nº de ref. del artículo: 600383
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Publicado por
IEEE Computer Society Press,U.S., 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. Nº de ref. del artículo: 42682699/202
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Publicado por
IEEE Computer Society, 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Nuevo
Tapa dura
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
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Hardcover. Condición: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA. Nº de ref. del artículo: 110C1-081868786X
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