Isbn: 9780792393528 - hot-carrier reliability of mos vlsi circuits: 227 (the springer international series in engineering and computer science, 227) (8 resultados)
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Condición: New. Addresses the issues related to hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits.This book is primarily for use by engineers and scientists who study device and circuit-level reliability in VLSI systems and develop practical reliability measures and models. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 212 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 509. . 1993. Hardback. . . . .…
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Gebunden. Condición: New. As the complexity and the density of VLSI chips increase with shrinking design rules, the evaluation of long-term reliability of MOS VLSI circuits is becoming an important problem. The assessment and improvement of reliability on the circuit level should be.
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Condición: New. Addresses the issues related to hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits.This book is primarily for use by engineers and scientists who study device and circuit-level reliability in VLSI systems and develop practical reliability measures and models. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 212 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 509. . 1993. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.…
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