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9780792386698 - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement: 15 (Frontiers in Electronic Testing, 15) (27 resultados)
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Design for at-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Better World Books: West, Reno, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,09
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Añadir al carritoCondición: Fine. Used book that is in almost brand-new condition. May contain a remainder mark. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Design for at-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,09
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Añadir al carritoCondición: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 20,77
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,31
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Añadir al carritoCondición: good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Good condition! Any other included accessories are also in Good condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,31
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Añadir al carritoCondición: acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover tears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: -OnTimeBooks-, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 30,94
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Añadir al carritoCondición: very_good. Gently read. May have name of previous ownership, or ex-library edition. Binding tight; spine straight and smooth, with no creasing; covers clean and crisp. Minimal signs of handling or shelving. 100% GUARANTEE! Shipped with delivery confirmation, if you're not satisfied with purchase please return item! Ships USPS Media Mail.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: SatelliteBooks, Burlington, VT, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 26,57
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Design for at-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 41,37
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Añadir al carritoCondición: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 79,95
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Añadir al carritohardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Design For At-speed Test, Diagnosis And Measurement (frontiers In Electronic Testing Volume 15) (frontiers In Electronic Testing)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,72
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Design For At-speed Test, Diagnosis And Measurement (frontiers In Electronic Testing Volume 15) (frontiers In Electronic Testing)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Design for At-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 154,64
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Añadir al carritoCondición: New.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 158,08
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Añadir al carritoCondición: Used. pp. 260.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 162,82
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Añadir al carritoCondición: Used. pp. 260 Illus.
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Design for At-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 154,80
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,18
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 163,80
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Añadir al carritoCondición: Used. pp. 260.
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Design for At-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 181,32
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Design for At-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 177,45
Envío por EUR 17,35
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 167,94
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Design for AT-speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1999
ISBN 10: 0792386698 ISBN 13: 9780792386698
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 202,92
Envío por EUR 10,50
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Añadir al carritoCondición: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s): Nadeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . .
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Springer US, Copernicus, 1999
ISBN 10: 0792386698 ISBN 13: 9780792386698
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,73
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
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Design for AT-speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1999
ISBN 10: 0792386698 ISBN 13: 9780792386698
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 253,07
Envío por EUR 9,04
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s): Nadeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,49
Envío por EUR 23,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted. 260 pp. Englisch.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,16
Envío por EUR 48,99
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as a.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 141,20
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement | Benoit Nadeau-Dostie | Buch | xvii | Englisch | 1999 | Copernicus | EAN 9780792386698 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Springer US, Copernicus Sep 1999, 1999
ISBN 10: 0792386698 ISBN 13: 9780792386698
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,49
Envío por EUR 60,00
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 260 pp. Englisch.
