Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Sep 1999, 1999

0792386698 / 9780792386698

Serie: Libro 37 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted. 260 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9780792386698

Título
Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Autor
Benoit Nadeau-Dostie
Editorial
Springer US Sep 1999
Año de publicación
1999
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
0792386698
ISBN 13
9780792386698
Peso del artículo
693 gramos
Dimensiones
260x183x19 mm
Serie
Libro 37 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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