9780471511045 - semiconductor material and device characterization de schroder, dk (12 resultados)

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Condición: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.

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Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino UnidoBetter World Books Ltd
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Condición: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.

Idioma: Inglés
Editorial: Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc 1990
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Librería: Bingo Books 2, Vancouver, WA, Estados Unidos de AmericaBingo Books 2
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- Primera edición
Librería: Books Tell You Why - ABAA/ILAB, Summerville, SC, Estados Unidos de AmericaBooks Tell You Why - ABAA/ILAB
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EUR 72,33
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Hardcover. Condición: Near Fine. Near Fine. First Edition; First Printing. A handsome first edition/first printing in Near Fine condition with previous owner's signature to front flyleaf in alike dust-jacket with light edgewear. [i-iv] v-vii [viii] ix-xv [xvi-xviii], 1-599 [600-6] pages; Book is written for graduate students and… industrial researchers who want to learn more about the wide spectrum of measurement methods found in the modern semiconductor industry ; 8vo.

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Librería: The Book Spot, Sioux Falls, MN, Estados Unidos de AmericaThe Book Spot
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Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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EUR 13,50
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 600 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.