Artículos relacionados a Semiconductor Material and Device Characterization
Sinopsis
This detailed sourcebook provides an up-to-date description and unified treatment of the characterization techniques used in the semiconductor industry. It covers electrical, optical, electron- beam, ion-beam, X-ray and gamma ray methods. This information, until now scattered in journals and review papers, is presented in a unified manner with over 1300 references. It is also a valuable reference book on characterization methods.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Reseña del editor
This detailed sourcebook provides an up-to-date description and unified treatment of the characterization techniques used in the semiconductor industry. It covers electrical, optical, electron- beam, ion-beam, X-ray and gamma ray methods. This information, until now scattered in journals and review papers, is presented in a unified manner with over 1300 references. It is also a valuable reference book on characterization methods.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Resultados de la búsqueda para Semiconductor Material and Device Characterization
Imagen de archivo
Semiconductor Material and Device Characterization
Publicado por
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good. Nº de ref. del artículo: 7648326-75
Comprar usado
EUR 17,75
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Semiconductor Material and Device Characterization
Publicado por
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Fair. No Jacket. Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Nº de ref. del artículo: G0471511048I5N00
Comprar usado
EUR 17,79
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Semiconductor Material and Device Characterization
Publicado por
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Very Good. No Jacket. Missing dust jacket; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Nº de ref. del artículo: G0471511048I4N01
Comprar usado
EUR 17,79
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Semiconductor Material and Device Characterization
Publicado por
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Nº de ref. del artículo: G0471511048I3N00
Comprar usado
EUR 17,79
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen del vendedor
Semiconductor Material and Device Characterization; - 1st Edition/1st Printing
Publicado por
John Wiley & Sons, Inc., New York, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antiguo o usado
Tapa dura
Original o primera edición
Librería: Books Tell You Why - ABAA/ILAB, Summerville, SC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 2 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Near Fine. Estado de la sobrecubierta: Near Fine. First Edition; First Printing. A handsome first edition/first printing in Near Fine condition with previous owner's signature to front flyleaf in alike dust-jacket with light edgewear. [i-iv] v-vii [viii] ix-xv [xvi-xviii], 1-599 [600-6] pages; Book is written for graduate students and industrial researchers who want to learn more about the wide spectrum of measurement methods found in the modern semiconductor industry; 8vo. Nº de ref. del artículo: 42841
Comprar usado
EUR 36,80
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Semiconductor Material and Device Characterization
Publicado por
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good. Nº de ref. del artículo: 7648326-75
Comprar usado
EUR 33,98
Envío por EUR 5,91
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Semiconductor Material and Device Characterization
Publicado por
Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Bingo Books 2, Vancouver, WA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Near Fine. Estado de la sobrecubierta: Near Fine. hardback book and dust jacket in near fine condition. Nº de ref. del artículo: 121490
Comprar usado
EUR 43,24
Envío por EUR 5,62
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Semiconductor Material and Device Characterization
Publicado por
John Wiley & Sons Inc, NY, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Feldman's Books, Menlo Park, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Fine. Nº de ref. del artículo: 00031623
Comprar usado
EUR 46,00
Envío por EUR 4,02
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Semiconductor Material and Device Characterization
Librería: The Book Spot, Sioux Falls, MN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: New. Nº de ref. del artículo: Abebooks128187
Comprar nuevo
EUR 81,89
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Semiconductor Material and Device Characterization
Publicado por
John Wiley & Sons, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 600 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Nº de ref. del artículo: 43783177/203
Comprar usado
EUR 24,90
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 2 disponibles