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9780387400907 - Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology) de Foster, Adam; Hofer, Werner A. (9 resultados)
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Scanning Probe Microscopy
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 36,67
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Scanning Probe Microscopy. Atomic Scale Engineering by Forces and Currents.
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 14,00
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carrito116 figs., XIV, 281 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. NanoScience and Technology Sprache: Englisch.
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SCANNING PROBE MICROSCOPY: ATOMIC SCALE ENGINEERING BY FORCES AND CURRENTS
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 86,60
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Scanning Probe Microscopy, Atomic Scale Engineering By Forces And Currents
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,89
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Scanning Probe Microscopy, Atomic Scale Engineering By Forces And Currents
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,19
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Scanning Probe Microscopy
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 152,83
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Used. pp. 296.
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Scanning Probe Microscopy
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 158,50
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Used. pp. 296.
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 228,25
Envío por EUR 28,71
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Edición internacionalSCANNING PROBE MICROSCOPY (HB 2006)
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 254,85
Envío por EUR 6,88
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