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9780387310688 - Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs: 32 (Frontiers in Electronic Testing, 32) de Kastensmidt, Fernanda Lima; Carro, Luigi; Reis, Ricardo (12 resultados)
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Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 19,08
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Añadir al carritoCondición: New. Very few books discuss fault-tolerance techniques for SRAM-based FPGAsShows state-of-the-art fault tolerance solutions for FPGAsShows fault-tolerance techniques that can be applied in different design phasesDiscusses the main differe.
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Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs | Fernanda Lima Kastensmidt (u. a.) | Buch | xvi | Englisch | 2006 | Springer Us | EAN 9780387310688 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Fault-tolerance Techniques for Sram-based Fpgas
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs (Frontiers in Electronic Testing, 32)
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Fault-tolerance Techniques for Sram-based Fpgas
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs (Frontiers in Electronic Testing, 32)
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 110,73
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Fault-tolerance Techniques for Sram-based Fpgas
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Fault-tolerance Techniques for Sram-based Fpgas
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 91,07
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Fault-tolerance in integrated circuits is not an exclusive concern regarding space designers or highly-reliable application engineers. Rather, designers of next generation products must cope with reduced margin noises due to technological advances. The continuous evolution of the fabrication technology process of semiconductor components, in terms of transistor geometry shrinking, power supply, speed, and logic density, has significantly reduced the reliability of very deep submicron integrated circuits, in face of the various internal and external sources of noise. The very popular Field Programmable Gate Arrays, customizable by SRAM cells, are a consequence of the integrated circuit evolution with millions of memory cells to implement the logic, embedded memories, routing, and more recently with embedded microprocessors cores. These re-programmable systems-on-chip platforms must be fault-tolerant to cope with present days requirements. This book discusses fault-tolerance techniques for SRAM-based Field Programmable Gate Arrays (FPGAs). It starts by showing the model of the problem and the upset effects in the programmable architecture. In the sequence, it shows the main fault tolerance techniques used nowadays to protect integrated circuits against errors. A large set of methods for designing fault tolerance systems in SRAM-based FPGAs is described. Some presented techniques are based on developing a new fault-tolerant architecture with new robustness FPGA elements. Other techniques are based on protecting the high-level hardware description before the synthesis in the FPGA. The reader has the flexibility of choosing the most suitable fault-tolerance technique for its project and to compare a set of fault tolerant techniques for programmable logic applications.
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 16 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 183 pages. 9.25x6.00x0.75 inches. In Stock.
