9780128246078 - quantitative atomic-resolution electron microscopy: volume 217 (advances in imaging and electron physics, volume 217) (15 resultados)
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Hardback. Condición: New. Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Volume 217, the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles o…n the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods. Chapters in this release include Statistical parameter estimation theory, Efficient fitting algorithm, Statistics-based atom counting , Atom column detection, Optimal experiment design for nanoparticle atom-counting from ADF STEM images, and more.
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Condición: New. Contains contributions from leading authorities on the subject matter Informs and updates on the latest developments in the field of imaging and electron physics Provides practitioners interested in microscopy, optics, image proce.
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Idioma: Inglés
Editorial: Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2021
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Buch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Volume 217, the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and…Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods. Chapters in this release include Statistical parameter estimation theory, Efficient fitting algorithm, Statistics-based atom counting , Atom column detection, Optimal experiment design for nanoparticle atom-counting from ADF STEM images, and more.
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Hardcover. Condición: Brand New. 232 pages. 9.00x6.00x0.79 inches. In Stock. This item is printed on demand.
