9780128042885 - reliability analysis and plans for successive testing: start-up demonstration tests and applications de balakrishnan; koutras; milienos (15 resultados)
Reliability Analysis and Plans for Successive Testing: Start-up Demonstration Tests and Applications 1ed
Balakrishnan, Narayanaswamy; Koutras, Markos; Milienos, Fotios
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Balakrishnan, Narayanaswamy/ Koutras, Markos/ Milienos, Fotios
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Reliability Analysis and Plans for Successive Testing: Start-up Demonstration Tests and Applications discusses all past and recent developments on start-up demonstration tests in the context of current numerical and illustrative examples t…o clarify available methods for distribution theorists and applied mathematicians dealing with control problems. Throughout the book, the authors focus on the panorama of open problems and issues of further interest. As contemporary manufacturers face tremendous commercial pressures to assemble works of high reliability, defined as 'the probability of the product performing its role under the stated conditions and over a specified period of time', this book helps address testing issues. Englisch.
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Buch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Reliability Analysis and Plans for Successive Testing: Start-up Demonstration Tests and Applications discusses all past and recent developments on start-up demonstration tests in the context of current numerical and illustrative examples to cla…rify available methods for distribution theorists and applied mathematicians dealing with control problems. Throughout the book, the authors focus on the panorama of open problems and issues of further interest. As contemporary manufacturers face tremendous commercial pressures to assemble works of high reliability, defined as 'the probability of the product performing its role under the stated conditions and over a specified period of time', this book helps address testing issues.
