9780124343306 - digital circuit testing and testability (the morgan kaufmann series in computer architecture and design) de lala, parag k. (4 resultados)
- Tapa dura
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de AmericaThriftBooks-Atlanta
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 44,92
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
- Tapa dura
Librería: Bay State Book Company, North Smithfield, RI, Estados Unidos de AmericaBay State Book Company
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 47,55
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: very_good.
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 39,13
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
- Tapa dura
Librería: The Book Spot, Sioux Falls, MN, Estados Unidos de AmericaThe Book Spot
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 271,62
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: New.
