Digital Circuit Testing and Testability (The Morgan Kaufmann Series in Computer Architecture and Design)

Lala, Parag K.

ISBN 10: 0124343309 ISBN 13: 9780124343306
Editorial: Academic Press, 1997
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por The Book Spot, Sioux Falls, MN, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 5 de febrero de 2013

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 263,43
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito