Weertman julia r editor (1 resultados)
Characterization of Defects in Materials: Volume 82, Materials Research Society Symposia Proceedings; 1-2 December, 1986; Boston, Massachusetts.
Siegel, Richard W. (Editor); Weertman, Julia R. (Editor); Sinclair, Robert (Editor)Hautojarvi, P.; Schaffer, James P.; Jones, P. L.; et.al.
Idioma: Inglés
Editorial: Materials Research Society, Pittsburg, PA, U.S.A., 1987
- Tapa dura
- Primera edición
Librería: SUNSET BOOKS 2, Newark, OH, Estados Unidos de AmericaSUNSET BOOKS 2
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 24,02
Envío por EUR 6,50Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: Very Good. No Jacket. 1st. With full markings, pocket, and/or bookplate, wear and soil. Size: 8vo. Ex-Library.
