Vandaele walter (14 resultados)
Statistical Methods for Comparative Studies: Techniques for Bias Reduction (Wiley Series in Probability and Statistics)
Anderson, Sharon Roe; Auquier, Ariane; Hauck, Walter W.; Oakes, David; Vandaele, Walter; Weisberg, Herbert I.
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Interscience (edition 1), 1980
Serie: Libro 38 de 358 - Wiley Series in Probability and Statistics
- Tapa dura
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Statistical Methods for Comparative Studies: Techniques for Bias Reduction (Wiley Series in Probability and Statistics)
Sharon Roe Anderson; Ariane Auquier; Walter W. Hauck; David Oakes; Walter Vandaele; Herbert I. Weisberg
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Interscience, 1980
Serie: Libro 38 de 358 - Wiley Series in Probability and Statistics
- Tapa dura
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Statistical Methods for Comparative Studies: Techniques for Bias Reduction (Wiley Series in Probability and Statistics)
Sharon Roe Anderson; Ariane Auquier; Walter W. Hauck; David Oakes; Walter Vandaele; Herbert I. Weisberg
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Interscience, 1980
Serie: Libro 38 de 358 - Wiley Series in Probability and Statistics
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Statistical Methods for Comparative Studies : Techniques for Bias Reduction
VanDaele, Walter, Auquier, Ariane, Hauck, Walter W., Anderson, Sharon A., Oakes, David
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley & Sons, Incorporated, John, 1980
Serie: Libro 38 de 358 - Wiley Series in Probability and Statistics
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- Primera edición
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Flemish Expressionism - A Modernist Vision: March 13 to May 15, 2015, the Kreeger Museum, Washington, DC
Ridder-Vandaele, Annette de; Vandaele, Walter; De Smet, Johan
Editorial: The Kreeger Museum, Washington, DC, 2015
- Tapa blanda
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EUR 22,30
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Añadir al carritoSoftcover. Condición: VG. Light shelfwear. Quarto. Softcover. Illustrated wraps. 43 pages. : Illustrations. ; 27 cm. Published in conjunction with the exhibition of the same name. - Edited by Annette De Ridder-Vendaele, Walter Vandaele ; David Graff, guest curator ; essay by Dr. Johan De Smet. - Includes bibliographical referenc…es (page 36).
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