Van steenbergen j ed (14 resultados)
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Hardcover. Condición: New. Estado de la sobrecubierta: New. First Edition. 561 pp. Peeters Publishers, Leuven 2010. Orientalia Lovaniensia Analecta nr. 223. First Edition. Hardcover. The seventh volume of proceedings of the International Colloquia on the History of Egypt and Syria in the Fatimid, Ayyubid and Mamluk Eras covers t…he 16th, 17th and 18th gatherings, organized at Ghent University in 2007, 2008 and 2009. New, unopened copy.
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Editorial: Uitgeverij Peeters (Leuven), 2001
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Egypt and Syria in the Fatimid, Ayyubid and Mamluk Eras IX : Proceedings of the 23rd and 24th International Colloquium Organized at the University of Leuven in May 2015 and 2016
D'hulster, K. (EDT); Schallenbergh, G. (EDT); Van Steenbergen, J. (EDT)
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Egypt and Syria in the Fatimid, Ayyubid and Mamluk Eras IX : Proceedings of the 23rd and 24th International Colloquium Organized at the University of Leuven in May 2015 and 2016
D'hulster, K. (EDT); Schallenbergh, G. (EDT); Van Steenbergen, J. (EDT)
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Safety, Reliability and Risk Analysis : Beyond the Horizon: Proceedings of the European Safety and Reliability Conference, ESREL 2013, Amsterdam, The Netherlands, 29 September - 2 October 2013
Steenbergen, R. D. J. M. (EDT); Van Gelder, P. H. A. J. M. (EDT); Miraglia, S. (EDT); Ton Vrouwenvelder, A. C. W. M. (EDT)
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Safety, Reliability and Risk Analysis : Beyond the Horizon: Proceedings of the European Safety and Reliability Conference, ESREL 2013, Amsterdam, The Netherlands, 29 September - 2 October 2013
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Safety, Reliability and Risk Analysis : Beyond the Horizon: Proceedings of the European Safety and Reliability Conference, ESREL 2013, Amsterdam, The Netherlands, 29 September - 2 October 2013
Steenbergen, R. D. J. M. (EDT); Van Gelder, P. H. A. J. M. (EDT); Miraglia, S. (EDT); Ton Vrouwenvelder, A. C. W. M. (EDT)
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Safety, Reliability and Risk Analysis : Beyond the Horizon: Proceedings of the European Safety and Reliability Conference, ESREL 2013, Amsterdam, The Netherlands, 29 September - 2 October 2013
Steenbergen, R. D. J. M. (EDT); Van Gelder, P. H. A. J. M. (EDT); Miraglia, S. (EDT); Ton Vrouwenvelder, A. C. W. M. (EDT)
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