Sclaroff stan edt (30 resultados)

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 276 de 300. Libro 276 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 54,92
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 276 de 300. Libro 276 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 60,64
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 276 de 300. Libro 276 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 60,16
Envío por EUR 17,36Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 76,22
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 81,35
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 276 de 300. Libro 276 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 66,66
Envío por EUR 17,36Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 73,32
Envío por EUR 17,36Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 82,37
Envío por EUR 17,36Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Image Analysis and Processing. Iciap 2022 Workshops : Iciap International Workshops, Lecce, Italy, May 23-27, 2022, Revised Selected Papers
Mazzeo, Pier Luigi (EDT); Frontoni, Emanuele (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 105,73
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Image Analysis and Processing. Iciap 2022 Workshops : Iciap International Workshops, Lecce, Italy, May 23-27, 2022, Revised Selected Papers
Mazzeo, Pier Luigi (EDT); Frontoni, Emanuele (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 115,26
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Image Analysis and Processing. Iciap 2022 Workshops : Iciap International Workshops, Lecce, Italy, May 23-27, 2022, Revised Selected Papers
Mazzeo, Pier Luigi (EDT); Frontoni, Emanuele (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 119,94
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 277 de 300. Libro 277 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 130,80
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 282 de 300. Libro 282 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 130,80
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 290 de 300. Libro 290 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 130,80
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 273 de 300. Libro 273 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 130,88
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 275 de 300. Libro 275 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 130,88
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 274 de 300. Libro 274 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 130,88
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 278 de 300. Libro 278 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 130,88
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 131,51
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Image Analysis and Processing. Iciap 2022 Workshops : Iciap International Workshops, Lecce, Italy, May 23-27, 2022, Revised Selected Papers
Mazzeo, Pier Luigi (EDT); Frontoni, Emanuele (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 136,47
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 275 de 300. Libro 275 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 137,98
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 282 de 300. Libro 282 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 137,98
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 290 de 300. Libro 290 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 137,98
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 273 de 300. Libro 273 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 137,98
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 274 de 300. Libro 274 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 137,98
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 277 de 300. Libro 277 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 137,98
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition and Information Forensics : Icpr 2020 International Workshops, Virtual Event, January 10-11, 2021, Proceedings
Del Bimbo, Alberto (EDT); Cucchiara, Rita (EDT); Sclaroff, Stan (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Mei, Tao (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2021
Serie: Lecture Notes in Computer Science, Libro 278 de 300. Libro 278 de 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 137,98
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 143,45
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 148,59
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 148,59
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.