S e ahmed u a (8 resultados)
FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.
Idioma: Inglés
Editorial: Research & Education Association (edition 3rd), 1998
- Tapa blanda
Librería: BooksRun, Philadelphia, PA, Estados Unidos de AmericaBooksRun
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FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.
- Tapa blanda
Librería: Goodwill Books, Hillsboro, OR, Estados Unidos de AmericaGoodwill Books
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Idioma: Inglés
Editorial: Research & Education Association February 2007, 2007
- Tapa blanda
Librería: Dunaway Books, St. Louis, MO, Estados Unidos de AmericaDunaway Books
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EUR 6,44
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Paper Back. Condición: Good.
FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.
- Tapa blanda
Librería: SHIMEDIA, Brooklyn, NY, Estados Unidos de AmericaSHIMEDIA
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FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) w/CD-ROM (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.; Engineering Study Guides
- Tapa blanda
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de AmericaBennettBooksLtd
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paperback. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2000
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Taschenbuch. Condición: Neu. Empirical Bayes and Likelihood Inference | S. E. Ahmed (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Statistics | xiv | Englisch | 2000 | Springer | EAN 9780387950181 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
Editorial: China Environmental Science Press Pub. Date :2009-, 2000
- Tapa blanda
Librería: liu xing, Nanjing, JS, Chinaliu xing
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EUR 51,56
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paperback. Condición: New. Language:Chinese.Pages Number: 250 Publisher: China Environmental Science Press Pub. Date :2009-12. According to the President of China Environmental Science Chen re-introduction. strategic environmental assessment refers to the policies. plans or programs and their alternatives may be to regulate the environmental impact of the system of comprehensive evaluation and the evaluation results to the public bear the responsibility for decision-making. It is to the EIA for the project s deficienci.…
- Tapa blanda
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EUR 106,06
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paperback. Condición: New. Paperback. Pub Date: 2021-05-01 Pages: 234 Language: Chinese Publisher: People's Posts and Telecommunications Publishing House TensorFlow is a machine learning framework led by Google and a popular target for research and application in the field of machine learning.?This book mainly introduces how to build a real-world machine learning system through TensorFlow. and aims to enable readers to apply what they have learned and get started with the project as soon as possible.?The feature of thi.…
