Reliability analysis center (2 resultados)
- Tapa blanda
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaThriftBooks-Dallas
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RELIABILITY ENGINEERING FOR ELECTRONIC DESIGN
Fuqua, Norman B. (Illinois Institute of Technology's Reliability Analysis Center & Apollo Program)
Editorial: Dekker, 1987. [, 1987
- Tapa dura
Librería: Reiner Books, Minneapolis, MN, Estados Unidos de AmericaReiner Books
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EUR 40,02
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. ] Hardback, 8vo, glossy illustrated boards (black on yellow and white backgrounds), xii + 388 pages, VG/no dj. Total of 4 pages have 2 or 3 lines highlighted + 10 early pages show from light to moderate pencil underlining and notes in the margin. Externally a rather insignifcant wrinkle mid-spine… o/w extremely nice. RWR5 Science Technology Electronics Electrical Engineering.
