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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: ThriftBooks-Reno, Reno, NV, Estados Unidos de America
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: ThriftBooks-Reno, Reno, NV, Estados Unidos de America
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerIdioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2003
ISBN 10: 058209948X ISBN 13: 9780582099487
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 7,62
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerIdioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2003
ISBN 10: 058209948X ISBN 13: 9780582099487
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: Good. 1 Edition. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: HPB-Ruby, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 4,50
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Cmos Sram: Circuit Design And Parametric Test In Nano Scaled Technologies Process Aware Sram Design And Test
Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books in my Basket, New Delhi, India
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 12,73
Envío por EUR 16,00
Se envía de India a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoSoft cover. Condición: New. ISBN:9788132202325.
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 46,46
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??????? ????????? ... ?? (Ukrainian Edition)
Idioma: Ucraniano
Publicado por British Library, Historical Print Editions, 2011
ISBN 10: 1241757062 ISBN 13: 9781241757069
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,13
Envío por EUR 13,88
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 54,33
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Añadir al carritoCondición: good. May show signs of wear, highlighting, writing, and previous use. This item may be a former library book with typical markings. No guarantee on products that contain supplements Your satisfaction is 100% guaranteed. Twenty-five year bookseller with shipments to over fifty million happy customers.
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,05
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,25
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 88,92
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 248.
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 77,85
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 82,98
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Ivan the Terrible (Profiles In Power)
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 82,09
Envío por EUR 17,94
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 89,60
Envío por EUR 9,95
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Perrie, M: Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 67,75
Envío por EUR 48,99
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Ivan the Terrible (Profiles in Power Series)
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,93
Envío por EUR 11,58
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 1st edition. 248 pages. 8.25x5.25x0.50 inches. In Stock.
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 110,97
Envío por EUR 28,96
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Hardcover)
Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2008
ISBN 10: 1402083629 ISBN 13: 9781402083624
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 149,89
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Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 176,82
Envío por EUR 2,31
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,24
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 187,83
Envío por EUR 2,31
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test
Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 78,62
Envío por EUR 105,00
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test
Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 78,62
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
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Ivan the Terrible
Libro 32 de 51: Profiles In PowerLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 189,28
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