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McSweeney's 43
Idioma: Inglés
Publicado por McSweeney's, San Francisco, CA, 2013
Librería: Argyl Houser, Bookseller, Altadena, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 8,85
Envío por EUR 4,29
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoSoft cover. Condición: As New. Spotless, undamaged literary magazine. No signs of wear. It will be bubble-wrapped and carefully packed in a sturdy box to ensure safe transit.
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Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings, 550)
Idioma: Inglés
Publicado por American Institute of Physics, 2001
ISBN 10: 156396967X ISBN 13: 9781563969676
Librería: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 167,27
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover tears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact.
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Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por American Institute of Physics, 2001
ISBN 10: 156396967X ISBN 13: 9781563969676
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 403,14
Envío por EUR 28,95
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
