Overhof h (4 resultados)
Point Defects in Semiconductors and Insulators : Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
Spaeth, Johann-Martin; Overhof, H.; Queisser, Hans-joachim (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2003
Serie: Libro 79 de 233 - Springer Series in Materials Science
- Tapa dura
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Point Defects in Semiconductors and Insulators : Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
Spaeth, Johann-Martin; Overhof, H.; Queisser, Hans-joachim (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2003
Serie: Libro 79 de 233 - Springer Series in Materials Science
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Point Defects in Semiconductors and Insulators : Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
Spaeth, Johann-Martin; Overhof, H.; Queisser, Hans-joachim (EDT)
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Editorial: Springer, 2003
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Point Defects in Semiconductors and Insulators : Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
Spaeth, Johann-Martin; Overhof, H.; Queisser, Hans-joachim (EDT)
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