Mohan manasa (14 resultados)
- Tapa dura
Librería: Zoom Books Company, Lynden, WA, Estados Unidos de AmericaZoom Books Company
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 134,41
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Condición: very_good. Book is in very good condition and may include minimal underlining highlighting. The book can also include "From the library of" labels. May not contain miscellaneous items toys, dvds, etc. . We offer 100% money back guarantee and 24 7 customer service. Aarthi Uma;Aarthi Uma (ilustrador).
- Tapa blanda
Librería: Books From California, Simi Valley, CA, Estados Unidos de AmericaBooks From California
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EUR 187,76
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paperback. Condición: Very Good. Cover and edges may have some wear.
- Tapa blanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 310,55
Envío por EUR 7,61Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New.
Non-destructive Material Characterization Methods
Otsuki, Akira (EDT); Jose, Seiko (EDT); Mohan, Manasa (EDT); Thomas, Sabu (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 343,94
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 333,21
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New.
Non-destructive Material Characterization Methods
Otsuki, Akira (EDT); Jose, Seiko (EDT); Mohan, Manasa (EDT); Thomas, Sabu (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 360,71
Envío por EUR 17,55Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Non-destructive Material Characterization Methods
Otsuki, Akira (EDT); Jose, Seiko (EDT); Mohan, Manasa (EDT); Thomas, Sabu (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 386,83
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 380,58
Envío por EUR 14,02Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Non-destructive Material Characterization Methods
Otsuki, Akira (EDT); Jose, Seiko (EDT); Mohan, Manasa (EDT); Thomas, Sabu (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 390,80
Envío por EUR 17,55Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 367,50
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Provides an overview of a wide-range of NDT material characterization methods, strengths and weaknesses of these methods, when to apply them, and more Includes eddy current sensing and imaging, ultrasonic sensing and imaging, RF and THz im.
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 512,00
Envío por EUR 65,53Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Neuware - Non-Destructive Material Characterization Methods provides readers with a trove of theoretical and practical insight into how to implement different non-destructive testing methods for effective material characterization. The book starts with an introduction to the field before moving right… into a discussion of a wide range of techniques that can be immediately implemented. Various imaging and microscopy techniques are first covered, with step-by-step insights on characterization using a polarized microscope, an atomic force microscope, computed tomography, ultrasonography, magnetic resonance imaging, infrared tomography, and more. Each chapter includes case studies, applications, and recent developments. From there, elemental assay and mapping techniques are discussed, including Raman spectroscopy, UV spectroscopy, atomic absorption spectroscopy, neutron activation analysis, and various others. The book concludes with sections covering displacement measurement techniques, large-scale facility techniques, and methods involving multiscale analysis and advanced analysis.
- Tapa blanda
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Condición: Brand New. New. US edition. Print on demand title. Delivery takes 20-25 days. Excellent Customer Service.
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Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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EUR 275,15
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Non-destructive Material Characterization Methods
Otsuki, Akira (Editor)/ Jose, Seiko (Editor)/ Mohan, Manasa (Editor)/ Thomas, Sabu (Editor)
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 317,12
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Paperback. Condición: Brand New. 916 pages. 9.00x6.00x1.69 inches. In Stock. This item is printed on demand.
