Mester michael (7 resultados)
Electromagnetic Testing: Eddy Current, Flux Leakage, and Microwave Nondestructive Testing (Nondestructive Testing Handbook)
Mcmaster, Robert Charles [Editor]; Mester, Michael L. [Editor];
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, Berlin, 2011
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Paperback. Condición: new. Paperback. This book constitutes the refereed proceedings of the 33rd Symposium of the German Association for Pattern Recognition, DAGM 2011, held in Frankfurt/Main, Germany, in August/September 2011. The 20 revised full papers and 22 revised poster papers were carefully reviewed and selected from 98 s…ubmissions. The papers are organized in topical sections on object recognition, adverse vision conditions challenge, shape and matching, segmentation and early vision, robot vision, machine learning, and motion. The volume also includes the young researcher's forum, a section where a carefully jury-selected ensemble of young researchers present their Master thesis work. The papers are organized in topical sections on object recognition, adverse vision conditions challenge, shape and matching, segmentation and early vision, robot vision, machine learning, and motion. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Paperback. Condición: Brand New. 2011 edition. 473 pages. 8.43x5.85x0.73 inches. In Stock.
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 476 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
Más imágenesNondestructive Testing Handbook, Volume 4: Electromagnetic Testing
McMaster, Robert C.; McIntire, Paul; & Mester, Michael L. (eds)
Editorial: American Society for Nondestructive Testing, Inc., Columbus, OH, 1986
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good+. Estado de la sobrecubierta: Very Good. Second Edition. 677pp.incl.index; dk.brwn.w/gilt; slight rub w/PON,foredge; clean,tight pgs. DJ brwns.w/white&blk; rubbed w/wear on edges&corners; 2'tear w/1x2"chip,bk.cover; 1x1"chip,ft.cover; sml.chips&tears. "Eddy current, flux leakage and microwave nond…estructive testing" illus. isbn 0931403014.
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