Lifshin e ed (4 resultados)
- Tapa blanda
Librería: Anthology Booksellers, Portland, OR, Estados Unidos de AmericaAnthology Booksellers
Contactar con el vendedorVendedor de 1 estrellasMiembro de asociación: CBA
Condición: Usado - Muy bueno
EUR 10,89
Envío por EUR 3,93Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Wraps. Condición: Near Fine. Square 8vo, 263 pp. One wrapper corner lightly bumped. Wayne Hogan (ilustrador).
Idioma: Inglés
Editorial: Pergamon, 1993
Serie: Advances in Materials Sciences and Engineering, Libro 7 de 7. Libro 7 de 7 - Advances in Materials Sciences and Engineering
- Tapa dura
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino UnidoAnybook.com
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Pobre
EUR 24,05
Envío por EUR 15,88Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In poor condition, suitable as a reading copy. No dust jacket. Water damage Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1450grams, ISBN:008…0406033.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I. (EDT); Newbury, Dale E.; Kchlin, Patrick; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, Joseph R.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Aceptable
EUR 83,32
Envío por EUR 2,31Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: good. May show signs of wear, highlighting, writing, and previous use. This item may be a former library book with typical markings. No guarantee on products that contain supplements Your satisfaction is 100% guaranteed. Twenty-five year bookseller with shipments to over fifty million happy customers.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I. (EDT); Newbury, Dale E.; Kchlin, Patrick; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, Joseph R.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Aceptable
EUR 94,49
Envío por EUR 17,51Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: good. May show signs of wear, highlighting, writing, and previous use. This item may be a former library book with typical markings. No guarantee on products that contain supplements Your satisfaction is 100% guaranteed. Twenty-five year bookseller with shipments to over fifty million happy customers.
